Celestron™ 灵活台式 TLP/VF-TLP 测试系统

使用灵活的 TLP/VF-TLP 测试系统设计和开发能承受静电放电 (ESD) 事件的半导体产品。Thermo Scientific™ Celestron™ 灵活台式 TLP/VF-TLP 测试系统可在各种压力源下对先进的半导体结构进行可靠的特性描述。系统可针对传输线脉冲 (TLP)、极快速传输线脉冲 (VF−TLP)、人体模型静电放电和机器模型静电放电进行相应配置，以适用于硅片级和/或封装级测试。选配的探针还可用于测定非被测管脚或非被测焊盘上的信号。

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产品详情

Celestron 系统软件在业内属于功能最全面的软件。在测试运行期间，系统可显示记录的 TLP 脉冲电压和电流波形、编制的脉冲 I-V 曲线、泄漏电流测量结果以及直流 I-V 曲线追踪数据。操作员可选择测试电压（应力脉冲）的范围、脉冲极性、漏电及曲线追踪参数。也可在采集数据后选择和修改 TLP 脉冲测量窗口的位置和持续时间。

>硅片或封装器件的 TLP 特性描述

>基于 WINDOWS™ 的集成式系统控制器

>40A 容量的 TLP 脉冲发生器

>标准 TLP - 100ns 脉冲持续时间

>VF-TLP – 10ns 脉冲持续时间

>持续时间可选，可同时选择软件和手动操作

>脉冲上升时间可选，可同时选择软件和手动操作

>提供多种测试模式，TDR-O、TDR-S、TDT、TDRT、 Hi-Z TDRT

>适用于硅片级测试的开尔文测量

>集成式产生源及量测仪表单元适用于精细的直流 V/I 测量

>可选的偏压配件（最多5组），可在电脑控制下进行偏压电源测试和测量

>可与半自动探针台界面连结

>先进且直观的软件用于系统控制和生成报告

>占地面积较小的台式

>单一配置即可进行 TLP 和 VF-TLP 测试。

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