手动探针台MPS150
主要用于基本的MOSFET、CMOS片、GaN芯片、RF芯片、有机器件、OLED...
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18502873311产品描述:
MPS200T 8英寸快速探针台针对功率器件、光电器件、射频器件晶圆片测试而设计的一体化在片 测试解决方案。可提供直流IV、CV、TLP,RF的测量能力。通过快速导轨移动12英寸大行程,气浮 锁定,精密微分尺定位每个晶圆的Die位置。探针台载片台平面经过镀镍处理保证测试过程中的低 接触电阻、超薄晶圆片处理和功率耗散,同时提供低漏电噪声的保护及屏蔽环境。
应用:
Ø器件(SAW,光电器件、GaN、SiC等)晶圆片测试
功能:
l晶圆载片测试能力: 直流、光电、射频参数测试
l载片台表面:特殊镀镍处理,保证更低的晶圆表面和载片台接触电阻
l安全操作:测试过程中互锁机构保证操作员人身安全
lXY移动方式:快速滑轨推动,气浮锁定,精密千分尺微调
l信号连接: 信号转接套件结合Keysight分析测试仪器,简单快捷实现测试系统的搭建
配置:
lMPS200T:探针台主机
l显微镜:单筒体显微镜配置镜头
l探针:直流探针、光探针、射频探针
l电磁屏蔽:定制电磁屏蔽箱
l探针座:精密磁吸千分尺探针座,位移解析5um
主要用于基本的MOSFET、CMOS片、GaN芯片、RF芯片、有机器件、OLED...
产品描述: MPS200T 8英寸快速探针台针对功率器件、光电器件、射频器件晶圆...
应用方向:主要用于GaAs射频芯片S参数测试、GaN/SiC功率器件的IV参数测...
MPS150SV是经济型探针台解决方案,适合需要在短的时间内 对半导体元器件及材...